評価試験を行っている一日に数十回抜き差しをするトランシーバーですが規格上の耐久回数はどうなっているのでしょう。
機器側が100回。コネクター側は50回。
MOLEXの機器側コネクターの試験仕様では250回
Rated Durability Cycles | 250 |
Field Life (3, 5, 7, or 10 years) | 10 years |
Connector/ Cage Durability | 100 cycles |
Module Durability | 50 cycles |
QSFPに関して記述されているSFF-8662もほぼ同様の値です。
USB-Cコネクターの一万回想定等と比べるとかなり厳しい数字です。接点数もおおいですからね。
この値を守るとなると、評価用貸し出し機材は50回を遥かに超えた回数挿抜したものを出しています。
また手元には2002年製造の1Gbpsトランシーバーを現用しております。